產(chǎn)品介紹：
雙色散自動化單色儀 M833可測UV-IR范圍、低雜散光、三光柵、雙進光口和出光口，可用于拉曼光譜儀，發(fā)射、熒光光譜儀檢測。
產(chǎn)品參數(shù)：
光譜范圍 | 180 – 4800 nm |
F/Number | 1 : 5.5 |
有效焦距 | 833 mm |
接口 | 兩個輸入和兩個輸出 |
衍射光柵 | 70 x 70 x 10 mm |
線/mm | 2400 | 1800 | 1200 | 900 | 600 | 300 |
閃耀波長, nm | 225 | 400 | 600 | 600 | 1000 | 2000 |
光譜范圍, nm | 190 - 600 | 253 - 800 | 380 -1200 | 506 - 1600 | 760 - 2400 | 1500 - 4800 |
掃描范圍, nm | 0 - 640 | 180 - 850 | 0 - 1280 | 0 - 1710 | 0 - 2560 | 0 - 5120 |
相對線色散,平均, nm/mm | 0.39 | 0.52 | 0.78 | 1.04 | 1.56 | 3.12 |
多通道陣列帶通,平均, nm | 11.28 | 16.92 | 22.57 | 33.84 | 20 | 40 |
光譜分辨率,平均, nm | 0.012 | 0.016 | 0.024 | 0.032 | 0.1 | 0.2 |
集成快門 | 自動調(diào)節(jié)快門測量暗信號 |
計算機接口 | USB |
尺寸, mm | 500 х 700 х 350 |
主要應用：
寬光譜拉曼和光致發(fā)光光譜的測量，特別可以應用于低頻領域；
半導體材料的內(nèi)部應力測量；
可以測量到小的stokes和反stokes拉曼譜線，一般可以測量到80-100波數(shù)。適用聚合物體系，半導體材料，陶瓷的結合效應，晶體結構等拉曼測量；
需要深紫外激發(fā)的應用，如蛋白質(zhì)，鉆石，鍍膜，半導體的光致發(fā)光譜
